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    澳譜特粒度儀亮相第61屆高博會(huì )為高??蒲凶⑷胄聞?dòng)力

     更新時(shí)間:2024-04-16 點(diǎn)擊量:4005

    2024年4月15日,春意盎然,花團錦簇,第61屆中國高等教育博覽會(huì )在福州海峽國際會(huì )展中心盛大開(kāi)幕。在這場(chǎng)匯聚智慧與創(chuàng )新的盛會(huì )上,澳譜特科技上海有限公司粒度粒形分析儀,為高??蒲泻徒虒W(xué)注入了新動(dòng)。

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    澳譜特科技上海有限公司作為粒度粒形分析儀器的專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠(chǎng)商,始終堅持“品質(zhì)源于專(zhuān)業(yè),創(chuàng )新構建未來(lái)”的宗旨。本次博覽會(huì )上,澳譜特帶來(lái)了Zetatronix系列納米粒度及Zeta電位分析儀以及MorphoVIEW系列圖像粒度粒形分析儀,這些產(chǎn)品憑借優(yōu)良品質(zhì)、簡(jiǎn)便操作特點(diǎn),吸引了眾多高校師生的關(guān)注。

     

    在展會(huì )現場(chǎng),澳譜特工作人員詳細介紹了粒度粒形分析儀的工作原理、應用領(lǐng)域以及優(yōu)勢特點(diǎn),通過(guò)生動(dòng)的演示和專(zhuān)業(yè)的講解,讓參會(huì )觀(guān)深刻感受到了澳譜特產(chǎn)品的性能和技術(shù)實(shí)力。

     

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    16日上午,在“開(kāi)創(chuàng )未來(lái):新成果 新技術(shù)”交流活動(dòng)上,澳譜特科技的應用工程師向與會(huì )者匯報了“多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)”的最新研究成果,展示了Zetatronix 939SZ納米粒度及Zeta電位分析儀,939SZ以高速數字相關(guān)器為核心器件,使用多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,提供與角度無(wú)關(guān)的高分辨率顆粒粒度分布,使用電泳光散射技術(shù)測量Zeta電位。智能化軟件自動(dòng)調整散射光強,自動(dòng)優(yōu)化測量參數,自動(dòng)剔除異常散射光數據,自適應截取相關(guān)函數,以適應不同樣品的測量需求。

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    此次展會(huì ),澳譜特科技還展示了MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀,用于測量顆粒粒度與粒形參數。MorphoVIEW 系列分析儀包括全自動(dòng)的靜態(tài)圖像和動(dòng)態(tài)圖像粒度粒形分析儀,能夠快速地提供粒度和粒形信息,對顆粒的宏觀(guān)、介觀(guān)、微觀(guān)形態(tài)特征進(jìn)行詳細的表征。

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    澳譜特科技始終堅持以客戶(hù)需求為導向,不斷創(chuàng )新和進(jìn)步,為高校科研院所提供更加優(yōu)質(zhì)、高效的產(chǎn)品和服務(wù)。

     

     

     

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