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    納米粒度及Zeta電位分析儀

    描述:Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發(fā)生變化,從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關(guān)鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越

    更新日期:2024-01-19
    產(chǎn)品型號:
    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    訪(fǎng)問(wèn)次數:1104
    詳情介紹
    品牌其他品牌價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域綜合

      納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發(fā)生變化,從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關(guān)鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過(guò)測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性。因此,廣泛應用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制以及科學(xué)研究,以便深入了解產(chǎn)品特性。

     技術(shù)類(lèi)型

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    Zetatronix?939系列 查看詳情

    采用多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),提供更高分辨率的粒度測量結果

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    Zetatronix?929系列 查看詳情
    采用背向動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),可以測量高濃度樣品的粒度

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    Zetatronix?919系列 查看詳情
    采用經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測量粒度
    經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射(DLS)
    背向動(dòng)態(tài)光散射(BSDLS)
    多角度動(dòng)態(tài)光散射(MADLS)

    測量角度11°、90°、175°11°、175°11°、90°
    測量類(lèi)型


    粒度
    Zeta電位
    分子量
    溫度/時(shí)間趨勢


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